1，基體金屬磁性 磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為時(shí)輕微的）。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應使用與試件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片對儀器進(jìn)行校準。

2，基體金屬厚度 每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度測量就不受基體厚度的影響。

3，邊緣效應 本儀器對試片表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試片邊緣或內轉角處進(jìn)行測量是不可靠的。

4，曲率 試件的曲率對測量有影響，這種影響總是隨著(zhù)曲率半徑的減小明顯地增大。因此不應在試件超過(guò)允許的曲率半徑的彎曲面上測量。

5，表面粗糙度 基體金屬何覆蓋層的表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會(huì )引起系統誤差何偶然誤差。每次測量時(shí)，在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未屠夫的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn)；或用沒(méi)有腐蝕性的溶液除去基體金屬覆蓋層，再校對儀器的零點(diǎn)。

6，磁場(chǎng) 周?chē)鞣N電氣設備所產(chǎn)生的強磁場(chǎng)，會(huì )嚴重地干擾磁性法測量厚度的工作。

7，附著(zhù)物質(zhì) 本儀器對那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著(zhù)物質(zhì)敏感。因此必須清除附著(zhù)物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。

8，探頭壓力 探頭置于試件上施加的壓力大小會(huì )影響測量的讀數。因此本儀器探頭用彈簧保持一個(gè)基本恒定的壓力。

9，探頭的放置 探頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使探頭與試樣表面保持垂直。

10，試件的變形 探頭使軟覆蓋層試件變形。因此在這些試件上會(huì )測出不太可靠的數據。 讀數次數 通常儀器的每次讀數并不*相同。因此必須在每一測量面積內取幾個(gè)讀數，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進(jìn)行多次測量。表面粗糙時(shí)更應如此。