涂層測厚儀采用無(wú)損檢測方法測厚既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，故能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進(jìn)行。在化工，電子，電力，金屬等行業(yè)中，為了實(shí)現對各類(lèi)材料的保護或裝飾作用，通常采用噴涂有色金屬覆蓋以及磷化、陽(yáng)極氧化處理等方法，這樣便出現了涂層、鍍層、敷層、貼層或化學(xué)生成膜等概念，我們稱(chēng)之為“覆層”。
覆層的厚度測量已成為金屬加工工業(yè)已用戶(hù)進(jìn)行成品質(zhì)量檢測*的zui重要工序。是產(chǎn)品達到標準的*手段。目前，國內外已普遍按統一的標準測定涂鍍層厚度，覆層無(wú)損檢測的方法和儀器的選擇隨著(zhù)材料物理性質(zhì)研究方面的逐漸進(jìn)步而更加至關(guān)重要。
有關(guān)覆層無(wú)損檢測方法，主要有：楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱(chēng)重法、X射線(xiàn)瑩光法、β射線(xiàn)反射法、電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中除了后五種外大多都要損壞產(chǎn)品或產(chǎn)品表面，系有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。
X射線(xiàn)和β射線(xiàn)反射法可以無(wú)接觸無(wú)損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍小。因有放射源，故，使用者必須遵守射線(xiàn)防護規范，一般多用于各層金屬鍍層的厚度測量。
電容法一般僅在很薄導電體的絕緣覆層厚度測試上應用。
涂層測厚儀的校準方法：
已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準標準片。簡(jiǎn)稱(chēng)標準片。
⒈ 校準箔
對TT220涂層測厚儀“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。“箔”有利于曲面上的校準。
⒉ 有覆蓋層的標準片
采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結合的覆蓋層作為標準片。對于涂層測厚儀，覆蓋層應是非磁性的。
涂層測厚儀使用方法和技巧
在使用涂層波測厚儀時(shí)注意對儀器的操作步驟及使用技巧，可以大大增加涂層測厚儀的使用壽命和測量的準確度。涂層測厚儀使用注意事項：
1，使用涂層測厚儀測量時(shí)，探頭一定要垂直于被測物的表面；2，測量時(shí)不要拖動(dòng)探頭，因為這樣不僅對探頭會(huì )造成磨損，也不會(huì )得到準確的測量結果；3，測量時(shí)探頭線(xiàn)在銜接探頭的位置不能過(guò)分彎曲及抖動(dòng)（針對分體式涂層測厚儀），這樣會(huì )影響測試效果，從而得不到準確而穩定的測量結果；4，盡量保證涂層測厚儀為專(zhuān)人使用和保管；5如感覺(jué)測量結果偏差比較大時(shí)，請先用隨機配備的五片塑料校準片做一輪測試，如偏離允許誤差較遠則有可能是儀器本身出了問(wèn)題，需返廠(chǎng)檢修，切記不可自行拆卸自行維修。
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